【WEB無償】7月30日(火) 「機能安全における故障率計算の重要性とソフトエラー故障率の現状と課題」セミナー

機能安全における故障率計算の位置付け (SGS Japan : 藤野)

• ISO26262における故障率計算を求めている背景
• 故障率視点で安全な設計を検証する2つの考え方
• ISO26262の故障率目標値に対する考え方

複雑化する半導体における故障率計算の勘所とポイント(仮) (SGS Japan :今川)

EVの普及や自動運転への対応に伴い、ECUの統合化が進み、半導体への要求も複雑化しています。
顧客と市場の要求を満たすため、複数のテクノロジーが混在する複雑な半導体において、基礎故障率をどのように計算するか、そのポイントと勘所についてご説明します。

• 基礎故障率算出のための各データベースの考察
• 複数のテクノロジー(ディジタル、メモリなど)が混在する半導体の故障率計算例

ソフトエラー故障率の現状と課題およびSGS台湾のご紹介 (SGS Taiwan : Mr. Wei) *In English(英語）

• Observed device failures and market solution analysis from some specific semiconductor vendor (A/Q/nV)
• IC design techniques covering both HW and SW techniques
  • (1oo2, 1oo3 without voter, the right way to do redundancy and ECC, layout, SW mitigation techniques, etc)
• Error classification and severity based fault injection to focus on high impact logic
• SER calculation for FPGA and considerations for other SEOOC such as memory and processors
  • Including how to apply numbers provided by foundry (for ICDES houses)
• Verification techniques from simulation, FPGA emulation, accelerated radiation testing, to environmental testing.